Metamodel-Driven Property Management in Process Industries

Piscataway, NJ / IEEE (2010) [Beitrag zu einem Tagungsband]

IECON 2010 : 36th annual conference on IEEE Industrial Electronics Society ; Glendale, Arizona, USA, 7 - 10 November 2010 ; [proceedings] / [sponsored by the Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE); IEEE Industrial Electronics Society (IES)]. - Vol. 2
Seite(n): 1341-1346

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Mertens, Martin
Epple, Ulrich

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